전계방사형 투과전자 현미경
FE-STEM (Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope)
모델명 | Talos F200X |
제작사 | Thermo Fisher Scientific |
설치장소 | 동아대학교 공대2호관(S04) 0101호 |
문의전화 | 051)200-6376 |
기기담당자 | 손광석 |
원리 및 특징
전계방사 방식의 고에너지 전자빔(200/80kV)을 활용하여 일반 투과전자현미경의 모든 기능에 더하여 집속전자빔을 투과시켜 주사투과전자현미경(STEM) 영상을 얻을 수 있음. 소재의 두께 및 strain의 영향이 적은 명시야상과 원자단위의 원소 구별이 가능한 HAADF 및 EDS mapping이 가능
활용분야
1. Convential TEM의 모든 기능
2. Scanning TEM : BF, ADF, HAADF
3. Fast EDS mapping
4. TEM and STEM tomography
5. EDS tomography
사용수가
분석항목 |
교내 |
교외 |
비고 |
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TEM(STEM,EDS) |
시간 |
60,000 |
100,000 |
|
Tomo(TEM,STEM,EDS) |
30,000 |
50,000 |
1개/일 제한 |