전계방사형 투과전자 현미경
FE-STEM (Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope)

집속이온빔연마장치
FIB (Focused Ion Beam)

전계방사형 주사전자현미경
FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscope)

주사탐침현미경
AFM (Atomic Force Microscope)

정밀이온밀링시스템
PIPS (Precision Ion Milling System)

정밀에칭코팅시스템
PECS (Precision Etching Coating System)

자연광 분광 복사 및 광도계
(UV-VIS/NIR spectrophotometer)

유도 결합 플라즈마 질량분석기
ICP-MS (Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer)

이온 크로마토그래프
IC (Ion Chromatograph)

원자 흡광 분광 광도계
AAS (Atomic Absorption Spectrometer)

핵자기공명분석기
FT-NMR (Fourier Transform-Nuclear Magnetic Resonance Spectrometry)

실시간 엑스선 회절분석기
in situ XRD (in situ X-Ray Diffractometer)

열중량-시차열분석기
TG-DTA (Thermal Gravity Differential Temperature Analyzer)

시차주사열량계
DSC (Differential Scanning Calorimeter)

산소, 질소, 수소 분석기
ONH Analyzer

유세포 분석 분리기
Cell Sorter(Automated Flow Cytometry Cell Sorter)

공초점 레이저 주사현미경
CLSM (Confocal Laser Scanning Microscope)